Структуроскоп МЕТЭК

Структуроскоп МЕТЭК

Назначение

• Сортировка сплавов по маркам
• Определение процентного содержания компонента в сплаве
• Определение структуры материала
• Измерение толщины металлических покрытий

Измерительная погрешность для первого и второго пункта ±20мкВ, для третьего и четвертого ±5мкВ. Т.е. минимальная погрешность, необходимая для структуроскопии и толщинометрии

Особенности и преимущества

• Автоматическое определение каждого нового измерения
• Информативный LCD-дисплей (отображение текущего, среднего и последних 8 измерений)
• Контроль температуры горячего электрода и образца
• Автоматическая цифровая обработка полученных результатов
• Анализ однородности результатов
• Сигнализация отклонения от эталонного образца
• Снижена тепловая нагрузка на руки оператора
• Горячий электрод из износостойкого и коррозионностойкого материала
• Экспресс-контроль деталей любых размеров без извлечения из изделия

• Структуроскоп
• Преобразователь
• Зарядное устройство
• Руководство по эксплуатации
• Упаковка