Высокопроизводительный спектрофотометр видимой области с технологией RFID для надежных и отслеживаемых результатов рутинных анализов и пользовательских задач. В поставку входит комплект для идентификации образцов.
Компактный и надежный спектрофотометр видимой области с технологией использования эталонных лучей. Образцы прослеживаются к точке отбора с помощью технологии RFID. Теперь в двумерный штрихкод включены номер партии и сведения о сроке годности реагентов.
Результаты данного процесса можно сравнить с эталонными лабораторными значениями, полученными на фотометре с помощью соединения LINK2SC между контроллером SC и фотометром. Через Ethernet можно осуществлять двунаправленный обмен данными, т. е. компенсация влияния матрицы датчика обработки может быть выполнена непосредственно в лаборатории.
Особенности и преимущества
Вес |
4.2 кг |
Воспроизводимость длины волны |
± 0.1 нм |
Выбор длины волны |
Автоматический |
Высота луча |
10 мм |
Гарантия |
2 года |
Диапазон длин волн |
320 - 1100 нм |
Дисплей |
7 " Цветной сенсорный дисплей TFT WVGA (800 x 480 пикселей) |
Длина волны калибровки |
Автоматический |
Интерфейсы (опция) |
USB типа A (2), USB типа B, Ethernet, RFID*-модуль |
Класс защиты корпуса |
IP30 |
Максимальная влажность при хранении |
80% |
Максимальная влажность при эксплуатации |
80% |
Оптическая система |
Опорный луч, спектральный |
Питание |
Настольный источник питания |
Погрешность установки длины волны |
± 1,5 нм (диапазон длин волн 340 – 900 нм) |
Подключение к сети |
Внешний источник питания, 100–240 В, 50–60 Гц |
Пользовательские программы |
100 |
Предварительно запрограммированные методы |
> 220 |
Размеры (В х Ш x Г) |
151 mm x 350 mm x 255 mm |
Рассеянный свет |
< 0,1 % T при 340 нм с NaNO2 |
Регистратор данных |
2000 измеряемые значения (результат, дата, время, код образца, код оператора) |
Режим работы |
Пропускание (%), оптическая плотность, концентрация и сканирование |
Совместимость кювет |
13 мм круглые, 1 см и 5 см прямоугольные, 1" круглые, 1" прямоугольные |
Спектральное разрешение |
1 nm |
Специальная технология |
Технология RFID для удобного обновления методов, кода образца и сертификатов анализа |
Требования к питанию (напряжение) |
110 - 240 В |
Требования к питанию (частота) |
50/60 Гц |
Условия работы |
10 °C - 40 °C |
Условия хранения |
-30 °C - 60 °C |
Фотометрическая линейность |
< 0,5 % - 2 Abs |
? 1 % с нейтральным стеклом при 546 нм |
|
Фотометрическая погрешность |
1 % от 0,50 - 2,0 Abs |
5 mAbs от 0,0 - 0,5 Abs |
|
Фотометрический диапазон измерений |
± 3,0 Abs (диапазон длин волн 340–900 нм) |
Основные | |
---|---|
Страна производитель | США |